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専攻科

電気情報システム専攻

高度で専門性の高い技術分野を教授するだけでなく、それらが複合して今日の高度化社会を支えているエネルギー、デバイス、情報技術などの融合型技術を必要とする産業界で活躍できる技術者の育成を目的としています。

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教育課程・シラバス

設備の紹介

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
細く絞った電子線を試料に当て、反射した電子線を映像化する顕微鏡です。15000倍程度の像を観察・撮影可能です。
X線回折装置
X線回折装置
試料に照射したX線が回折する様子から,結晶の種類・構造などの情報を得ることができます。多重の安全構造により、X線管理者を必要とせずに利用可能です。
微細表面形状測定装置
微細表面形状測定装置
試料表面の形状をナノレベルの精度で測定できる装置です。
半導体評価システム
半導体評価システム
半導体集積回路の多様かつ微少な電流挙動まで測定できるシステムです。

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独立行政法人 国立高等専門学校機構 長野工業高等専門学校
〒381-8550 長野市徳間716 TEL.026-295-7003
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